DE-G Web / Cloud 版

云端部署的半导体数据分析平台 · 浏览器即用、团队共享、AI 赋能

通用统计分析质量管理 / SPCDOE 实验设计可靠性工程半导体良率分析
国产(信创)
桌面 + 云端混合
质量工程师 / QE 可靠性工程师 / RE 工艺 / 半导体工程师 数据分析师 / 研究员
半导体 / 电子 通用制造 / 六西格玛
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软件详细介绍

Cloud Analytics · from Semitronix

DE-G Web / Cloud 版

云端部署的半导体数据分析平台 · 浏览器即用、团队共享、AI 赋能

DE-G Web / Cloud 版是广立微在 DE-G 桌面版基础上推出的云端形态,把通用半导体统计分析能力搬到浏览器端,支持企业私有化部署与云端共享。工程师无需安装客户端,打开浏览器即可完成数据分析;分析项目、模板与报告可在团队内共享协作,并融合 AI 能力(AI DE-G),实现"用 AI 探索数据"的智能化分析体验。

出品方广立微电子(Semitronix)
部署方式企业私有化云部署
访问方式浏览器访问,无需安装
AI 能力AI DE-G 智能分析

一、产品定位

Web/Cloud 版解决的是桌面软件在企业协作与数据治理上的三个痛点:一是免安装、免配置,新同事打开即用;二是数据与分析资产集中管理,项目、模板、报表在团队内共享,避免"分析在个人电脑里";三是与企业大数据平台打通,与广立微 YMS、DMS、SPC 等 DATAEXP 家族系统协同,形成从数据采集到分析决策的完整链条。

对于多工厂、多地域的半导体企业,云端版本还支持统一部署、集中运维,数据不出企业内网,兼顾安全与效率。2025 年 8 月,广立微发布 DE-G 云端全功能试用版面向全球开放;2026 年随 DE-G 4.0 升级,云端同步获得高交互动态数据探索、专业 DOE 实验设计与 AI 高阶预测建模能力,与桌面版保持功能一致。

DE-G 缺陷帕累托分析
图 1  DE-G 缺陷分析:Defect Count Pareto 按工艺步骤堆叠展示缺陷数量与累积占比,Web 端同款交互图表

二、核心能力

  • 浏览器即用:统一 Web 入口,无需安装客户端,跨部门、跨地域随时随地访问分析平台。
  • 云端部署与数据安全:支持企业私有化部署,数据保留在内部网络,满足半导体制造企业数据合规要求。
  • 团队共享协作:分析项目、模板、Workbook 云端共享,可调度任务自动刷新数据、重复画图。
  • 完整分析功能继承:与桌面版一致的 WaferMap、BinMap、DefectMap、Correlation、Regression、ANOVA、DOE 等分析与可视化能力。
  • AI 赋能(AI DE-G):深度融合大模型,智能机器人"G仔"提供智能答疑、AI 公式生成、智能表格操作、智能绘图、Smart Report 自动报告与客制化 Flow 分析,全面提升数据分析效率。
  • 生态协同:与广立微 YMS 良率管理系统、DMS 缺陷管理系统、SPC 等系统联动,衔接设计、制造、测试全环节数据。

三、典型应用场景

场景典型用途
跨厂区协同分析多个 Fab 共享同一分析平台与模板,统一分析口径,快速横向对比。
量产监控报表Web 端仪表盘定时刷新 CP/FT 数据,异常自动告警并定位。
AI 辅助根因定位通过"G仔"自然语言问答、AI 公式与自动报告,把根因溯源缩短至秒级。
与良率系统联动对接 YMS 智能分析看板,实现从缺陷发现、归因到改善的闭环。

四、适用人群

DE-G Web/Cloud 版适合已经建设或正在建设企业级数据平台的集成电路制造、封测及设计企业,尤其是多工厂、多团队、对数据治理与安全要求高的组织。它既保留 DE-G 桌面版的全部分析能力,又通过云端部署与 AI 能力降低了使用门槛,是广立微面向"AI 赋能半导体全产业链"战略的核心产品形态之一。